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动态高温高湿反偏试验方法 047 2024 SiC CASAS DH3TRB 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管 MOSFET

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动态反偏试验方法 046 2024 SiC CASAS DRB 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管 MOSFET

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碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管 CASAS SiC 动态栅偏试验方法 2024 045 MOSFET

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碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管 CASAS SiC 高温反偏试验方法 2024 043 MOSFET

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MOSFET 第2部分：体二极管工作引起双 48164.2 2026 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管可靠性试验方法半导体器件 SiC

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MOSFET 第1部分：偏置温度不稳定性试 48164.1 2026 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管可靠性试验方法半导体器件 SiC

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碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管 CASAS SiC 功率器件开关动态测试方法 2024 033 MOSFET

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碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管 CASAS SiC 栅极电荷测试方法 2024 037 MOSFET

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MOSFET 第1部分：偏置温度不稳定性试 48164.1 2026 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管可靠性试验方法半导体器件 SiC

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第2部分： MOSFET 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管 2026 纸版标准 SiC 半导体器件 48164.2 可靠性试验方法图书

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